自動組裝檢測系統
OKTEK 岡業科技
 
 
 
 
 
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LED外觀檢查裝置

 
 

■特徵
.可同時檢查多片晶片
.在彩色空間中指定良品範圍,即可設定詳細內容
.可以軟體支援品種切換
.可排除NG晶片或標記為不良品。
.可輸入MAP檔案(將檢查結果覆蓋輸出
.可將檢查結果輸出為檔案(MAP檔)

■檢查項目
髒污、變色、異物、裂痕、破損、傷痕

■對象工作物
晶粒切割後的所有晶圓晶片
.環的尺寸:5、6、8吋用平板環(Flat Ring)
.基板尺寸:+-150mm以內
.晶片尺寸:0.1mm~

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