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產品簡介 | Products
OKTEK LED外觀檢查裝置
| 電子零件業界 - 關於晶片零件 （其他）
特徵
- 可同時檢查多片晶片
- 在彩色空間中指定良品範圍，即可設定詳細內容
- 可以軟體支援品種切換
- 可排除NG晶片或標記為不良品。
- 可輸入MAP檔案(將檢查結果覆蓋輸出)
- 可將檢查結果輸出為檔案(MAP檔)
檢查項目
- 髒污、變色、異物、裂痕、破損、傷痕
對象工作物
: 晶粒切割後的所有晶圓晶片
- 環的尺寸：5、6、8吋用平板環（Flat Ring)
- 基板尺寸：+-150mm以內
- 晶片尺寸：0.1mm～
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